_WELCOMETO Radioland

Главная Схемы Документация Студентам Программы Поиск Top50  
Поиск по сайту



Навигация
Главная
Схемы
Автоэлектроника
Акустика
Аудио
Измерения
Компьютеры
Питание
Прог. устройства
Радио
Радиошпионаж
Телевидение
Телефония
Цифр. электроника
Другие
Добавить
Документация
Микросхемы
Транзисторы
Прочее
Файлы
Утилиты
Радиолюб. расчеты
Программирование
Другое
Студентам
Рефераты
Курсовые
Дипломы
Информация
Поиск по сайту
Самое популярное
Карта сайта
Обратная связь

Студентам


Студентам > Курсовые > Конструирование микросхем и микропроцессоров

Конструирование микросхем и микропроцессоров

Страница: 5/6

 

                На этом расчет резисторов второй группы завершен. Все резисторы получились прямыми и неподстраиваемыми. Вследствие этого размеры резисторов минимальны, что позволит располагать их на подложке компактно и с наибольшей степенью интеграции.

 

Расчет резисторов закончен !

 

 

 

Расчет контактных переходов для резисторов первой группы

 

            1. Исходные данные для низкоомных резисторов: , где

                        Rн - номинальное сопротивление резистора;

                        - относительная погрешность контактирования;

                         - удельное поверхностное сопротивление;

                        bmin - минимальная ширина резистора;

                       

            2.  Рассчитаем максимально допустимое значение сопротивления контактного перехода:

                        Ом;

 

            3. Рассчитаем сопротивление контактного перехода:

                        Ом;

 

            4. Проверка условия:

                        Rк доп  должно быть больше, чем Rк п. Условие соблюдается.

 

            5. Находим минимальную длину контактного перехода:

                        мм;

 

            6. Находим реальную длину контактного перехода:

                       

 

            Остальные резисторы данной группы удовлетворяют этому условию.

 

Расчет контактных переходов для резисторов второй группы

 

            1. Исходные данные для высокоомных резисторов: , где

                        Rн - номинальное сопротивление резистора;

                        - относительная погрешность контактирования;

                         - удельное поверхностное сопротивление;

                        bmin - минимальная ширина резистора;

                       

            2.  Рассчитаем максимально допустимое значение сопротивления контактного перехода:

                        Ом;

 

            3. Рассчитаем сопротивление контактного перехода:

                        Ом;

 

            4. Проверка условия:

                        Rк доп  должно быть больше, чем Rк п. Условие соблюдается.

 

            5. Находим минимальную длину контактного перехода:

                        мм;

 

            6. Находим реальную длину контактного перехода:

                       

 

            Остальные резисторы данной группы удовлетворяют этому условию.

 

 

 

Расчет геометрических размеров тонкопленочных конденсаторов, выполненных методом свободной маски (МСМ)

 

1. Исходные данные:

            а). конструкторские: , где

                        Cн - номинальная емкость конденсатора;

                        gC - относительная погрешность номинальной емкости;

                        Up- рабочее напряжение на конденсаторе;

                        T°max C - максимальная рабочая температура МС;

                        tэкспл - время эксплуатации МС.

            б). технологические:  , где

                        Db(Dl) - абсолютная погрешность изготовления;

                        Dlустан  - абсолютная погрешность совмещения трафарета;

                        - относительная погрешность удельной емкости.

 

2. Выбор материала диэлектрика:

                В качестве материала диэлектрика будем использовать “СТЕКЛО ЭЛЕКТРОВАКУУМНОЕ”. Характеристики этого материала приведены в таблице:

 

Таблица 10.  Материал диэлектрика конденсатора

 

Материал

С0, пФ/мм2

e

tg d

Eпр, В/мкм

aс, 10-4

S, %/1000ч

Стекло электровакуумное  С41-1

НПО.027.600

 

100 - 300

 

5 - 6

 

0,002 -

0,005

 

200 - 400

 

2

 

1,5

 

 

3. Определение толщины диэлектрика:

                мкм, где

                        Кз - коэффициент запаса, необходимый для обеспечения надежностных характеристик и равный 2 - 4. Примем Кз = 2.

 

4. Определение удельной емкости по рабочему напряжению:

           

 

5. Определение коэффициента формы конденсатора:

            Для большей компактности микросхемы выберем коэффициент формы конденсатора равным двум. Конденсатор такой формы удобнее разместить на подложке, чем квадратный.

            Кф = 2;

 

6. Определение относительной погрешности старения:

                        , где

 

            tисп  - время испытания за которое определен коэффициент старения S;

            tисп  = 1000 часов.

 

7. Определение относительной температурной погрешности:

            =0,0002(150-20)=0,026

 

8. Вычисление относительной погрешности:

            = 0,23-0,115-0,026-0,075 = 0,014;

 

9. Определение удельной емкости по относительной погрешности:

            ;

 

10. Определение вида конденсатора:

            Результаты расчета показали, что конденсатор будет изготавливаться неподстраиваемым. Это наиболее оптимальный вид конденсатора.

 

11. Выбор удельной емкости:

            Удельная емкость выбирается из следующего соотношения:

             и удовлетворять диапзону самого материала.

            С0 = 300 пФ/мм2

 

12. Определение площади перекрытия обкладок:

            S = Cн/C0 =3800/300 = 12,7 мм2;

 

13. Определение размеров верхней обкладки:

            ;

            ;

 

14. Определение размеров нижней обкладки:

            ;

            ;

 

15. Определение размеров диэлектрика:

            ;

            ;

 

16. Определение площади, занимаемой конденсатором:

             мм2.

 

            На этом расчет конденсатора закончен. Конденсатор получился неподстраиваемым. Вследствие этого его размеры минимальны, что позволит расположить его на подложке компактно и с наибольшей степенью интеграции.

 

Расчет конденсаторов закончен !

           

Выбор и обоснование топологии

 

 

            1. Выбор топологии производится на основе принципиальной электрической схемы данной микросхемы;

 

            2. Выбран вариант технологического процесса - метод свободной маски;

 

            3. Перечень конструкторских и технологических ограничений:

 

                        Оборудование имеет шесть позиций:

                        - низкоомные резисторы и подслой для контактных площадок

                        - высокоомные резисторы

                        - нижняя обкладка конденсатора и соединительные проводники

                        - диэлектрик конденсатора

                        - верхняя обкладка конденсатора и контактные площадки

                        - защитный слой;

 

            4. Ограничение перечня элементов в пленочном исполнении;

 

            5. Произведен расчет геометрических размеров элементов;

 

            6. Определение необходимой площади подложки:

 

                        , где Кзап=0,5-0,75

                       

                        Из перечня стандартных размеров выбираем подходящие размеры подложки . Исходя из проведенных расчетов выберем подложку с размерами 12x20 мм.  

 

            7. При проведении граф-анализа данной схемы установлено, что все пленочные и навесные элементы расположены в плоскости, и схема их соединений удовлетворяет всем конструкторским и технологическим требованиям.     

 

Граф - анализ электрической принципиальной схемы

 

               

Рис. 3.  Граф - схема

 

Топология

 

 

Рис. 4.   Топология

Обоснование выбора корпуса

 

        В